TCI- XM 经济型清洁度测试系统

      TCI-XM 经济型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸，通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小，与XA型的清洁度检测系统的差别在XM型是手动型，所以一般可以适用于清洁度要求不是非常高的情况，如检测最大颗粒，或者颗粒较大而且数量不多。

指标：

放大倍率：7X—80X

颗粒范围：3微米—5000微米

滤纸：25/47/50/100

功能：

 通过数码摄像头可以在计算机监视器上直接观察、测量颗粒

 准确测定非金属、金属颗粒的大小

 能同时将金属颗粒的反光区和阴影区合并测量

 鼠标引导测量（鼠标移动相应颗粒），自动给出测量数据

 对于测试颗粒分类汇总

 任意排版的图文混编的报告输出

标准配置：

○ 专用体视显微镜

○ 环形LED光源

○ 手推平台带滤纸托盘

○ 130万像素数码摄像头

○ 0.05mm 物镜测微尺

○ 0.1mm 目镜测微尺

○ TCI 清洁度测试分析软件

选配：

○ 计算机

○ 打印机

○ 电子天平

○ 烘箱

○ 制样系统

○ 洁净工作台